奧林巴斯ASTM E164校準(zhǔn)  IIW型試塊

在幾乎每個應(yīng)用中都要用到校準(zhǔn)試塊和/或參考試塊。奧林巴斯可為用戶提供用于普通材料的角度聲束校準(zhǔn)和厚度校準(zhǔn)的多種標(biāo)準(zhǔn)試塊。

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   校準(zhǔn)試塊

   所有試塊都使用可追溯到美國*標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)研究所（NIST）的測量設(shè)備進行尺寸檢查。經(jīng)常求購的校準(zhǔn)試塊列于下表中。

   類型	工件編號	說明	盒子
   ASTM E164校準(zhǔn) IIW型試塊	TB7541-X	符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準(zhǔn)距離和靈敏度設(shè)置。測量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點。美制單位（英寸）。	F129
   	TB1136-X	美制單位（英寸）試塊，帶有機玻璃塞	F129
   	TB1054-X	公制單位	F129
   	TB1137-X	公制單位試塊，帶有機玻璃塞	F129
   美國空軍 IIW-2校準(zhǔn)試塊	TB5939-X	IIW型試塊，根據(jù)《美國空軍NDI手冊T.O.33B -1-1》。包含用于距離校準(zhǔn)的半徑為2英寸和4英寸的切口。帶有3號、5號和8號橫通孔，以及2英寸孔的距離校準(zhǔn)標(biāo)記。	F129
   RC AWS試塊	TB7543-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，確定角度聲束探頭的分辨率能力。	F157
   SC AWS試塊	TB7545-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，進行靈敏度和折射角度的校準(zhǔn)。	F158
   DC AWS試塊	TB7547-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離和聲束步進的校準(zhǔn)。	F159
   DSC AWS試塊	TB7549-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進行距離、靈敏度、折射角度及聲束步進的校準(zhǔn)。	F160
   DS AWS試塊	TB7551-X	根據(jù)AWS和AASHTO的要求，用于水平線性和dB精度程序的校準(zhǔn)試塊。	F161
   30FBH分辨率參考試塊	TB7160-X	評價UT設(shè)備的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的靈敏度。帶有3號、5號和8號ASTM平底孔，位于從0.050英寸到1.250英寸之間的10個金屬行程距離處。	包含
   NAVSHIPS試塊	TB7567-X	帶有6個3號橫通孔。用于根據(jù)NAVSHIPS 0900-006-3010標(biāo)準(zhǔn)進行距離波幅校準(zhǔn)。	F162
   ASTM E164 MAB試塊	TB7150-X	微型角度聲束（ROMPAS）試塊。用于距離、聲束步進、折射角度及靈敏度的校準(zhǔn)。厚度為1英寸。	F197
   ISO 7963鋼制	TB1065-X	微型角度聲束試塊。用于距離、聲束步進、折射角度和靈敏度的校準(zhǔn)。厚度為25毫米。	F197

   將工件編號中的“X”替換為以下所列試塊材料對應(yīng)的編號：1 = 1018鋼，2 = 4340鋼，4 = 7075-T6鋁，5 = 304不銹鋼，8 = 6-4鈦